銳影X射線衍射系統(tǒng)獲得2010年中國科學儀器優(yōu)秀新品獎
2011-04-29
由中國儀器儀表行業(yè)協(xié)會、中國儀器儀表學會分析儀器分會和儀器信息網(wǎng)共同主辦的2011中國科學儀器發(fā)展年會與2011年4月26日在北京京儀大酒店舉行，超過500位分析儀器業(yè)內(nèi)人士歡聚一堂。此次發(fā)展年會對2010年國內(nèi)外分析儀器行業(yè)現(xiàn)狀進行了較為詳盡的數(shù)據(jù)分析，并重點展望了“十二五”期間中國分析儀器市場的前景和發(fā)展趨勢。
帕納科2010年推出的最新銳影衍射系統(tǒng)繼2010年在美國PITTCON展會上獲得最佳新品獎后，再一次得到國內(nèi)分析儀器屆的關注，它搭建了一個可分析覆蓋粉末、薄膜、納米材料、固體物質(zhì)樣品；提供0、1、2、3維的X射線衍射及CT影像的強大分析平臺。領先的技術和卓越的表現(xiàn)再次受到相關領域?qū)＜以u審的一致肯定，并一舉榮獲“光譜、X射線、波譜類分析儀器類”“2010年中國科學儀器優(yōu)秀新品獎”。
中國科學儀器發(fā)展年會已經(jīng)成功的舉辦了四屆，“年會”在分析儀器領域里為專家、分析儀器廠商和分析儀器用戶搭建了一個很好的橋梁，已逐步成為中國科學儀器行業(yè)具有非常影響力的高端會議。
