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Hitachi日立 S-3400N掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品編號:
市場價:¥0.00
會員價:¥0.00
品牌:中文
生產(chǎn)廠家:Hitachi日立
需求數(shù)量:
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Hitachi日立 S-3400N掃描電子顯微鏡

S-3400N掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品介紹:

              S­-3400N掃描電子顯微鏡

S-3400N具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。

特點:

1. S-3400N具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、
   自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。
2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。
4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺,傾斜角度可達(dá)-20度~+90度,樣品最高可達(dá)80mm。
5. 分析樣品倉可以同時安裝EDX , WDX 及EBSD。
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵,潔凈、高效。

技術(shù)指標(biāo):

 項目  描述
 SE分辨率  3.0nm (30kV),高真空模式 
 10nm (3kV), 高真空模式
 BSE分辨率  4.0nm (30kV),低真空模式
 放大倍率  x5 ~ x300,000
 加速電壓  0.3 ~ 30 kV
 低真空范圍  6 ~ 270 Pa
 最大樣品尺寸  直徑200mm
 樣品臺            I型                              II型
 X          0 ~ 80mm                          0 ~ 100mm
 Y           0 ~ 40mm                          0 ~ 50mm
 Z          5 ~ 35mm                          5 ~ 65mm
 R             360º                              360º
 T         -20º~ +90º                        -20º ~ +90º
 最大樣品高度       35mm (WD=10mm)                     80mm (WD=10mm)
 驅(qū)動類型           手動                            五軸馬達(dá)驅(qū)動
 燈絲  預(yù)對中鎢燈絲
 物鏡光欄  可移動式4孔物鏡光欄
 槍偏壓  固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
 檢測器  二次電子檢測器
 高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器
 分析位置  WD=10mm, TOA=35o
 控制  鼠標(biāo)、鍵盤,手動旋鈕
 自動調(diào)校  自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、自動合軸、自動聚焦  
 消像散、自動亮度對比度 


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