SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

高靈敏度、高精度的測量                         
全方位表征單一體系納米尺度粒子
完全解析納米粒子的物質結構

技術參數：

■  粒子直徑測定
?  ●  超寬動態(tài)光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm
?  ●  通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器，實現高性能化。
?  ●  在單一納米粒子專用光學系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng)。
?  ●  雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
■  Zeta電位測定
?  ●  通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

■  主要特點：    
     ●  超小體積設計
     ●  可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
     ●  樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
     ●  HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
     ●  廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
     ●  操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。