天光PM-1平面平晶
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
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平面直徑d(mm)
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基本參數(shù)
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1級(jí)
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價(jià)格
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2級(jí)
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d范圍內(nèi)
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2/3d范圍內(nèi)
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d范圍內(nèi)
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2/3d范圍內(nèi)
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30
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0.03
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----
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275
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0.1
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0.05
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45
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325
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60
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375
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80
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0.05
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0.03
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575
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100
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1125
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150
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5000
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200
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0.08
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0.05
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9200
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0.12
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0.06
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250
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0.1
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0.05
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18400
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0.15
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0.08
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300
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0.15
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0.09
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55000
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0.2
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0.1
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