常用物性測試儀
- 類別
- 全部 | 密度儀 | 折光儀 | 密度折光儀 | 溫度計(jì) | 濕度計(jì) | 測厚儀 | 溫濕度計(jì)/記錄儀 | 熔點(diǎn)儀 | 鹽度計(jì) | 糖度計(jì) | 硬度計(jì) | 壓力測定儀 | 其他物性測試儀
- 品牌
- | Thermo 熱電| Anton Paar 安東帕| LLOYD勞埃德| Sartorius 賽多利斯| ATAGO 愛宕| WIGGENS| 天光| TESTO德圖| HANNA哈納| york約克| wheation| QNix尼克斯| Oxford牛津| Elcometer易高| EPK| Aquila| 北京時(shí)代| 予華| SCHOTT肖特| 三信| BILON上海比朗| 三思| ERWEKA艾維卡| IKA儀科| EPPENDORF 艾本德| HACH 哈希| Labtech 萊伯泰科| Lovibond 羅維朋| CEM| TABER| SDLAtlas錫萊亞太拉斯| axygen愛思進(jìn)
-
Aquila 英國NKD8000 高級(jí)薄膜測定系統(tǒng)
市場價(jià):
¥0.00元 會(huì)員價(jià):¥0.00元 品牌:Aquila
NKD-8000系統(tǒng)綜合了光學(xué)、電子學(xué)和高級(jí)分析軟件,是目前測定多層薄膜和基片的折射率、吸收系數(shù)和厚度最精確、最易用的系統(tǒng)。NKD-8000系列產(chǎn)品具有全自動(dòng)、可同時(shí)測定透過光譜和反射光譜,入射光角度從0°到90°連續(xù)改變。對分光光譜儀而言,這是一項(xiàng)前所未有的新功能,使得NKD-8000適用于最具挑戰(zhàn)性的光學(xué)測量。對多層薄膜和基片的n、k和d的測定變得準(zhǔn)確、快捷