TL泰立CMI 200系列CMI 243膜厚儀
CMI 243是一款專門為測量磁性金屬基材上的鋅、鎳、鉻、鎘等鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。獨特的渦電流測試方法使測量更精確。高端配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。
ECP-M探頭：鋅、鎳、鉻、鎘均可以測量
●準確度：±1%
●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率：0.01mils (0.1μm)
●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動轉換
●統(tǒng)計數(shù)據顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，最高值，最低值，最終值
●記憶儲存：12,400個數(shù)據儲存
●接口：RS-232串行端口，波特率可調，可接打印機或計算機
●顯示：液晶顯示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)
●電池：9V干電池或可充電電池。
●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)
●重量：9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內)