Oxford牛津CMI900(X熒光鍍層測厚儀)
CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
高性能X射線熒光光譜儀
- 快速精確的分析：正比計(jì)數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度
- 簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
- 性能優(yōu)化，測量元素范圍廣： 可預(yù)設(shè)參數(shù)
CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法
- 杰出的長期穩(wěn)定性：
- 自動(dòng)熱補(bǔ)償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果
- 簡單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)